PVA Tepla

Wettenberg (www.aktiencheck.de) - Die PVA TePla AG (ISIN DE0007461006 / WKN 746100 ) meldete am Freitag, dass sie mit einer Übernahme ihre Kompetenz auf dem Gebiet der analytischen Systeme für die Halbleiterindustrie stärkt.


Wie der Hersteller von Anlagen für die Kristallisation von Silizium sowie von Vakuum- und Hochtemperaturanlagen mitteilte, übernimmt er zum 6. Juli 2012 die Munich Metrology GmbH. Das Unternehmen, ursprünglich hervorgegangen aus der GeMeTec mbH, entwickelt und vertreibt weltweit innovative Analysesysteme zur Bestimmung der Oberflächenverunreinigungen auf Wafern für die Halbleiterindustrie. Insbesondere metallische Verunreinigungen können mittels der bei Munich Metrology entwickelten VPD (Vapour-Phase-Decomposition)-Technologie mit einer äußerst hohen Empfindlichkeit und Reproduzierbarkeit erfasst werden. Vollautomatisierte Systeme, die die VPD-Technologie in Kombination mit massenspektroskopischen Analyseverfahren (ICP-MS) einsetzen, genügen bezüglich der Bestimmung des Kontaminationsgrades von Wafern und Mikroelektronik-Bauelementen allerhöchsten Ansprüchen auch zukünftiger Entwicklungen.

Mit der Übernahme der Munich Metrology GmbH, die im Geschäftsjahr 2011 ein Umsatzvolumen im niedrigen einstelligen Millionenbereich realisiert hat, baut PVA TePla ihre technologische Kompetenz im Bereich der Wafer-Analytik (Metrologie) konsequent aus und stärkt die bestehenden Metrologie-Aktivitäten im Geschäftsbereich Semiconductor Systems. Neben den Ultraschallmikroskopen der PVA TePla Analytical Systems GmbH und Monitoring-Systemen für Scherspannungen des Produktbereiches Plasma Systems verfügt die PVA TePla AG nun über ein drittes Standbein im Bereich der "high-end" Analytik für Wafer bis zu 450mm Durchmesser. Die Munich Metrology beschäftigt 14 Mitarbeiter und hat Tochtergesellschaften in Hsinchu (Taiwan) und in Sacramento (USA).

Die Aktie von PVA TePla verlor gestern 3,11 Prozent auf 2,80 Euro. (06.07.2012/ac/n/nw)